CME-Mo系列光譜儀/單色儀特點：
◆ 150mm，300mm，500mm，750mm等多種焦距可選，適應不同光譜帶寬需求；
◆光學結構采用經典的Czerny-Turner結構，有效改善譜線對稱性和提高光學分辨率，消二次色散設計，有效抑制雜散光；
◆多光柵塔臺設計，更好的發揮了儀器覆蓋UV-VIS-IR全波段光譜范圍的優勢，并可根據需要組合以滿足不同；
◆光柵采用大面積光柵，有效提高了收集光效率；
◆多種光柵可以選擇，適應不同光譜波段，覆蓋UV-VIS-IR范圍；
◆針對紅外（>1μm）波段的*化設計，光學鏡片采用鍍金膜設計，提高紅外光反射效率；
◆儀器的控制（如光柵轉換、波長掃描等）全部由計算機控制；
◆全新的DSP芯片設計使得出入口的選擇更加具有靈活性，可根據需要選擇雙入-出口；雙入-出口的控制通過計算機軟件自動控制，定位更精準；
◆可連接我公司任意一款單點探測器和其它附件，還可以連接線陣、面陣探測器做攝譜儀使用。與光源、探測器（單點探測器和陣列CCD等）組合搭建，實現任意光譜系統組合方案，如熒光、拉曼、透射/反射、吸收光譜及光源發射光譜系統等；
◆配有充氮氣專用口，便于在紫外和近紅外有大氣吸收譜的波段范圍內使用；
◆光學室和機械傳動室嚴格分開，避免后者產生雜散光及潤滑油微量揮發對光學件的污染；
◆可選：自動濾光輪、電子快門、自動狹縫。
技術參數表（@1200g/mm光柵條件下）
CME-Mo150 | CME-Mo300 | CME-Mo500 | CME-Mo750 | |
λ焦距(mm) | 150 | 300 | 500 | 750 |
相對孔徑 | f/4.2 | f/3.9 | f/6.5 | f/9.7 |
光學結構 | C-T | |||
機械掃描范圍(nm) | 0-2200 | 0-3200 | ||
分辨率(nm) | 0.4 | 0.1 | 0.05 | 0.03 |
倒線色散(nm/mm) | 5.4 | 2.7 | 1.7 | 1.1 |
波長準確度(nm) | ±0.25 | ±0.2 | ||
波長重復性(nm) | ±0.1 | ±0.1 | ||
掃描步距(nm) | 0.01 | 0.005 | ||
焦面尺寸(mm) | 25(W)×10(H) | 25(W) ×14(H) | ||
光軸高度(mm) | 134 | |||
狹縫規格 | 縫寬：0.01-3mm連續手動可調，可選配自動狹縫；縫高：2，4，10，14mm可選。 | |||
光柵尺寸(mm) | 32×32 | 68×68 | ||
光柵臺 | 雙光柵 | 三光柵 | ||
外型尺寸(mm) | 298×200×185 | 390×278×204 | 560×320×204 | 800×450×204 |
重量(kg) | 10 | 16 | 22 | 32 |
光路圖：
應用軟件：
◆ 任意的波長定位功能 任意的波長定位功能使得用戶可以自由地定位到目標波長位置，方便用戶做定點波長分析。
1. 由選擇已安裝的光柵進行切換，并可以設定各塊光柵的切換位置。
2. 256 個等級的運行速度選擇。
3. 波長定位功能 ：目標方式，相對移動方式。
4. 單色儀/光譜儀調試運行過程中，用戶隨時可以停止光譜儀的運行。
◆ 濾光片的自動選擇功能 在波長掃描過程中，濾光片組會自動選擇一檔合適的濾光片，使得譜儀能夠自動進行多級光譜濾波的功能。
1. 用戶可以自由設定濾光片的定位位置。
2. 用戶可以自由設定濾光片的工作范圍。
◆ 開機自動定位功能 用戶可以設定儀器的開機定位位置 ：上次關機的位置或者位置。
◆ 光譜掃描功能
3. 能一次控制多臺設備即
4. 掃描方案可單光柵、連續光柵或跨光柵對各個波段進行順序掃描。
5. 掃描方案中起始波長、掃描間隔、終止波長由客戶自由設定。
6. 用戶可以隨時終止掃描狀態。
7. 可以對波長進行多次采樣，測定穩定度。
8. 采集到的數據可同時圖譜顯示和表格顯示。
9. 可以自由地對圖譜中的數據曲線可以進行任意地放大和縮小，隱藏和顯示。
10. 譜線數據可以直接拷貝然后粘貼到 Excel 中，使用戶能夠進行更多的***處理功能。
11. 用戶可以觀察任一曲線上任一點的坐標值。
常用配件（氙燈光源必配）：六檔濾光片輪
濾光片輪為單色儀/光譜儀系列配套產品，可用于消除多級光譜，與我公司生產的系列單色儀/光譜儀配套使用，
在啟用狀態可自動歸零定位，實現掃描過程中的濾光片自動更換，在非啟用狀態可手動控制。
濾光片輪安裝3塊長波通濾光片，***檔為空，不安裝任何濾光片，第二到第四檔標準配置濾光片材料分別為ZJB320, CB535, HWB850，使用范圍185-1800nm，第五和六檔為預留濾光片孔，可以安裝任何濾光片。
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